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Product Category中圖儀器SuperViewW1白光表面干涉儀分辨率0.1μm,重復(fù)性0.1%,通過(guò)測(cè)量干涉條紋的變化來(lái)測(cè)量表面三維形貌,專用于精密零部件之重點(diǎn)部位表面粗糙度、微小形貌輪廓及尺寸的非接觸式快速測(cè)量。應(yīng)用領(lǐng)域廣泛,操作簡(jiǎn)便,可自動(dòng)聚焦測(cè)量工件獲取2D,3D表面粗糙度、輪廓等一百余項(xiàng)參數(shù)。
SuperView W1白光干涉儀檢測(cè)設(shè)備分辨率0.1μm,重復(fù)性0.1%,可以進(jìn)行非接觸式掃描并建立表面3D圖像的測(cè)量過(guò)程,通過(guò)系統(tǒng)軟件分析器件表面3D圖像并進(jìn)行數(shù)據(jù)處理與分析,實(shí)現(xiàn)了器件表面形貌3D測(cè)量的效率高與簡(jiǎn)化性。
?現(xiàn)有的接觸式測(cè)量方法具有測(cè)量速度慢、易劃傷測(cè)量表面的缺點(diǎn),而單一的光學(xué)非接觸測(cè)量方法難以完成對(duì)大面形或曲率較大的高反射曲面零件三維形貌的高精度測(cè)量。SuperView W1白光干涉儀檢測(cè)儀器實(shí)現(xiàn)了超精密加工高反射曲面三維形貌的高精度非接觸測(cè)量。
Super View白光干涉儀國(guó)內(nèi)品牌采用的測(cè)量方式是非接觸無(wú)損測(cè)量方式,避免了對(duì)被測(cè)物體造成劃痕和磨損,尤其適用于各種柔軟材料、易腐蝕材料和傳統(tǒng)方式無(wú)法檢測(cè)的表面形態(tài)測(cè)量和分析。集合了自身白光干涉三維重建技術(shù)和微納米顯微測(cè)量三維軟件,以及采用了集合相移法PSI的高精度和垂直法VSI大范圍兩大優(yōu)點(diǎn)的擴(kuò)展型相移算法EPSI,分辨率0.1μm,重復(fù)性0.1%,比肩進(jìn)口品牌,讓輪廓測(cè)量?jī)r(jià)格*為實(shí)惠。
中圖儀器白光干涉儀專用于非接觸式快速測(cè)量,具有三維形貌測(cè)量和圖像分析的功能。適合檢測(cè)的樣品按領(lǐng)域分為微納材料、超精密加工(機(jī)械、光學(xué))、半導(dǎo)體封裝、消費(fèi)電子類這四個(gè)領(lǐng)域。
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